手動(dòng)探針臺(tái)的應(yīng)用范圍

 微型真空探針臺(tái)是一款用于材料電學(xué)表征和測(cè)量的微型桌面型電學(xué)測(cè)量臺(tái)，主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)性能表征和測(cè)量，還可以在真空、氣氛環(huán)境下對(duì)材料進(jìn)行電學(xué)測(cè)量評(píng)估，是實(shí)驗(yàn)室測(cè)量薄膜材料電學(xué)材料B備工具，廣泛用于高校、科研、航天航空、軍工院所等領(lǐng)域。

  應(yīng)用：晶圓、芯片、LED測(cè)試、場(chǎng)晶體管、IGBT、分立器件等測(cè)試類型：IV/CV測(cè)試、RF測(cè)試、光電測(cè)試等搭配儀器：吉時(shí)利2400系列、4200系列、安捷倫B2900系列、1500系列等特點(diǎn)：超高真空環(huán)境、避免氧化、結(jié)霜，77K-675K溫度測(cè)試范圍，外置探針臂操作更穩(wěn)定、精準(zhǔn)，可兼容不同類型顯微鏡滿足不同觀察要求、可滿足光譜測(cè)試、液氮開(kāi)循環(huán)制冷，降低研發(fā)成本，模塊化設(shè)計(jì)、后期可無(wú)縫升級(jí)配置。

應(yīng)用場(chǎng)景：晶圓芯片高低溫測(cè)試

測(cè)試類型：IV/CV/RF

樣品臺(tái)：4英寸

溫度范圍：77K-673K

真空度：10E-4Pa

顯微鏡類型：?jiǎn)瓮病Ⅲw視、金相顯微鏡

探針臂數(shù)量：2-6個(gè)

探針臂移動(dòng)：50mm*50mm*50mm

測(cè)試接口：BNC三同軸

測(cè)試精度：100fA

可搭配儀器：源表、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、示波器等

華測(cè)其它相關(guān)產(chǎn)品：

可按用戶要求訂制非標(biāo)產(chǎn)品

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